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＜研究の背景＞
　対象物の状態をできる限り正しく識別することは、計測や通信を始めとする様々な分野における基本的な要素として重要です。センシングの高感度化や通信の高速化・大容量化へのニーズに伴い、光や電子などのミクロな物質をより積極的に活用することが必要になってきています。しかし、ミクロな物質を活用するほど量子雑音と呼ばれる雑音が多く含まれるようになり、識別において物理的に避けられない誤りが支配的になることが知られています。そこで、量子雑音の影響を含めた識別性能の物理限界を把握することが求められています。
　高い識別性能を得るためには、一般に対象物に光などを照射してその反応を調べるといった能動的な識別が効果的です（能動的な識別の例を図１に示します）。しかしこの方式では、対象物の振る舞いが複雑であるような場合には量子限界性能を求めるために膨大な計算量を必要とするため、限界性能を厳密に求めることは実質的に不可能です。厳密解を求める代わりに限界性能のとり得る範囲を計算するための手法が近年開発されましたが、計算できる問題が限られており精度もあまり高くないという課題がありました。

＜研究成果＞
　今回、従来とは異なるアプローチに基づいてより汎用的な手法を開発することに成功しました。特に量子雑音の影響を強く受けるような問題では従来法よりも顕著に精度が向上することを、理論解析および数値実験により示しました。図２は従来法との精度を比較した数値実験結果の例です（色が付いた範囲内に限界性能の厳密解が存在し、この範囲が狭いほど精度が高いことを表しています）。提案法は、縺れ合いなどの量子論特有の現象を明示的には利用せず対象物の確率的な振る舞いのみに基づいて計算するため、従来法と比べて直観的に理解しやすいことも特徴的です。

●掲載論文
雑誌名
Physical Review Letters (2021年5月18日・日本時間)
論文タイトル
Simple upper and lower bounds on the ultimate success probability for discriminating arbitrary finite-dimensional quantum processes
論文PDFはこちら　https://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.126.200502
著者
Kenji Nakahira* and Kentaro Kato（*責任著者）

本研究はJSPS科研費JP19K03658の助成を受けたものです。