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工学院大学（東京都新宿区）工学部電気システム工学科の坂本哲夫教授の研究グループはこのたび、先端的な分析装置の開発研究の成果（JST先端計測分析技術・機器開発プログラム、東京工業大学・藤井正明教授との共同研究）を応用し、ナノメートル（100万分の1ミリ）の微小粒子の成分を分析する新型顕微鏡の開発に成功。これにより、PM2.5一つ一つの粒子の成分可視化が、世界で初めて可能となった。今後は越境汚染による健康影響や地球温暖化などにおいて、より効果的な対策の展開に寄与することが期待される。
現在、PM2.5に関しては大気環境中の濃度を測定する方法（質量濃度測定方法）は確立されているものの、汚染物質や発生源を特定することは困難であり、高精度に把握できる分析方法が求められていた。
今回開発された新型顕微鏡が実現した明確な画像によって、これまで困難であったPM2.5や黄砂の、成分や内部構造などの実態の解明が可能になり、発生源の特定ができるようになった。ナノレベルのイオンビームの制御がこの画期的な開発につながった。今後、越境汚染による健康影響や地球温暖化などにおいて、より効果的な対策の展開に寄与することが期待される。
◆新たに発表した顕微鏡について
【名 称】高分解能FIB-TOF-SIMS/SNMS質量顕微鏡
【分解能】40nm（成分分析が可能な顕微鏡として世界最高値）
【開発期間】基本開発2004年～2010年、応用開発2011年～現在
【技術内容】
1.ナノスケールイオンビーム集束技術（FIB）
2.質量分析技術
3.粒子の微細加工技術
【応用分野】
1.PM2.5をはじめとする大気微粒子の分析
2.リチウムイオン電池材料の高精度分析
3.有機EL、太陽電池材料の高精度分析
【参考情報】
●FIB（Focused Ion Beam）
数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、電子顕微鏡のように画像が見えるだけではなく、小さな物体を断面加工したり、表面を削り取ったりすることができる。新型顕微鏡はこの機能を活かして、粒子の成分を少しずつ削りながら画像化する。
※写真・画像データの使用の際には、＜工学院大学 坂本哲夫教授＞と明記をお願いします。
▼本件に関する問い合わせ先
学校法人 工学院大学 総合企画部広報課 担当：佐野・関根・山口
TEL： 03-3340-1498
FAX： 03-3340-1648
E-mail： gakuen_koho@sc.kogakuin.ac.jp
新型顕微鏡が実現した明確な画像
顕微鏡装置本体
装置内部の様子
大学・学校情報 |
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| 大学・学校名 工学院大学 |
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| URL https://www.kogakuin.ac.jp/ |
| 住所 東京都新宿区西新宿1-24-2 |
| 学長（学校長） 今村 保忠 |
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